Ученые Томского государственного университета (ТГУ) разработали математические модели и программное обеспечение для контроля качества отечественных материалов, компонентов и беспроводных микросхем на основе трехмерных изображений. Использование нейронных сетей повысило скорость и точность диагностики.
В процессе обучения использовались цифровые двойники диагностируемых объектов - печатных плат, транзисторов, конденсаторов и катушек индуктивности. Эти данные также используются в базе данных при обучении ИИ для повышения точности.
Читайте также: Томичи за вторые выходные марта перевели мошенникам 7,5 миллионов рублей
